Programm

Moderne Bildsensoren

11:00  

Vorstellung Sony Stuttgart Technology Center
M. Zumkeller, Sony Stuttgart

 

11:15   Deep Trench Isolation (DTI) is here to stay in the CIS World
Prof. Dr. A. Theuwissen, Harvest Imaging, Belgien
      Abstract
     
11:50  

Polarisation Image Sensor and its Application
Yasutuka Hirasawa, Sensing Technology Department, R&D Center,
Sony Corporation, Japan

     
12:25   Kurzpräsentationen („Teaser“) Ausstellungsexponate & Poster
     
12:35   Mittagspause / Ausstellung / Poster

13:25   Laufzeitbildsensoren (Titel vorläufig)
U. Grimm, ESPROS Photonics AG, Sargans, Schweiz
     
14:00   Photonzählende Bildsensoren: eine Vielfalt neuer Möglichkeiten
Dr. J. Ruskowski, Fraunhofer IMS, Duisburg
      Abstract
     
14:35  

Event-based image sensors (Titel vorläufig)
C. Posch, Prophesee, Paris

     
15:10   Kaffeepause, Ausstellung & Poster
     
16:00  

Geometrische Qualität handelsüblicher Kameras für die optische Messtechnik

H. Hastedt, Hochschule Oldenburg

      Abstract
     
16:25  

Gebrochenzahliges Binning

Dr. J. Kunze, Basler AG
      Abstract
     
17:00  

Ende