Programm

11:00   Vorstellung Sony Stuttgart Technology Center
M. Zumkeller, Sony Stuttgart
11:15   Deep Trench Isolation (DTI) is here to stay in the CIS World
Prof. Dr. A. Theuwissen, Harvest Imaging, Belgien
  Abstract
11:50   Polarisation Image Sensor and its Application
Yasutuka Hirasawa, Sensing Technology Department, R&D Center,
Sony Corporation, Japan
  Abstract
12:25   Kurzpräsentationen („Teaser“) Ausstellungsexponate & Poster
12:35   Mittagspause / Ausstellung / Poster
13:25   Laufzeitbildsensoren
Prof. Dr. B. Jähne, HCI, Universität Heidelberg
  Abstract
14:00   Photonzählende Bildsensoren: eine Vielfalt neuer Möglichkeiten
Dr. J. Ruskowski, Fraunhofer IMS, Duisburg
  Abstract
14:35   Event-basierte Bildsensoren
Dr. C. Matolin, Prophesee, Paris
  Abstract
15:10   Kaffeepause, Ausstellung & Poster
16:00   Geometrische Qualität handelsüblicher Kameras für die optische Messtechnik
H. Hastedt, Hochschule Oldenburg
  Abstract
16:25   Gebrochenzahliges Binning
Dr. J. Kunze, Basler AG
  Abstract
17:00   Ende