Programm

- Änderungen vorbehalten -

	Moderation: Prof. Dr. Bernd Jähne, IWR, Universität Heidelberg
11:00	Vorstellung der Technischen Universität Ilmenau Vertreter des Präsidiums, TU Ilmenau
11:15	3D-Vermessung transparenter Objekte mit Wärmemusterprojektion Prof. Dr. Gunther Notni, TU Ilmenau
12:00	RTI-basiertes Computational Imaging und künstliche Intelligenz für die Oberflächenanalyse Dr. Paul-Gerald Dittrich, Opto GmbH, München Abstract
12:35	Teaser für Poster und Ausstellung
12:45	Mittagspause mit Ausstellung und Posterbeiträgen
13:45	Moiré-Effekte und Gegenmaßnahmen in der Displaymesstechnik Alexander Voelz, TechnoTeam Bildverarbeitung GmbH, Ilmenau Abstract
14:20	Validierung von (KI-basierten) Klassifikatoren Prof. Dr. Ralph Neubecker, Hochschule Darmstadt Abstract
14:55	Kaffeepause mit Ausstellung und Posterbeiträgen
15:45	Industrielle Bildverarbeitung mit KI - robuste Systemlösung durch gezielten Methodeneinsatz Dr. Thomas Seiffert, Robert Bosch GmbH, Stuttgart Abstract
16:20	Sehen, bewerten, nachregeln – Prozessoptimierung mit Computer Vision und KI Dr. Bernd Meese, Fraunhofer IPA, Stuttgart Abstract
16:55	Abschluss der Veranstaltung